NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 山東耐克特分析儀器有限公司
品牌 耐克特
型號(hào)
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2026/2/9 8:50:53
訪問次數(shù) 47

產(chǎn)品標(biāo)簽

激光粒度儀濕法激光粒度儀干濕一體激光粒度儀噴霧激光粒度儀納米粒度及Zeta電位分析儀

在線交流發(fā)送詢價(jià) 進(jìn)入商鋪同類產(chǎn)品

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公司介紹 主營產(chǎn)品

山東耐克特分析儀器有限公司始建于2010年，總部位于美麗的泉城濟(jì)南，是集專業(yè)粒度分析儀、新型激光粒度儀等智能儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)為一體的企業(yè)。公司得到了省、市、區(qū)各級(jí)上級(jí)的高度重視，被列為山東省軟件企業(yè)、濟(jì)南市專精特新企業(yè)，山東省專精特新企業(yè)。具有深厚的激光、圖像粒度分布測量理論研究功底和zhuoyue的技術(shù)創(chuàng)新能力，取得了多項(xiàng)豐碩的科研成果，是目前國內(nèi)的顆粒測量儀器制造商，產(chǎn)品的技術(shù)性能和質(zhì)量達(dá)到高水平。立足中國走向世界是山東耐克特市場開發(fā)的整體戰(zhàn)略，儀器不僅銷往全國34各省、市、自治區(qū)，還出口到美國、加拿大、德國、俄羅斯、韓國、印度、越南、印尼、菲律賓、南非等幾十個(gè)國家。

人才是企業(yè)的臺(tái)柱人物，山東耐克特聚集了多位在激光分析儀器與應(yīng)用分析領(lǐng)域具有豐富經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)成就的精英專家，團(tuán)結(jié)凝聚了一批光、機(jī)、電、算專業(yè)技術(shù)人才，形成一支高、精、尖專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，現(xiàn)有專業(yè)技術(shù)人員10人，高級(jí)技術(shù)專業(yè)人員5人，其中擁有博士學(xué)位人員2人，碩士6人，專業(yè)涵蓋顆粒表征技術(shù)的基礎(chǔ)理論研究、應(yīng)用技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品制造、技術(shù)支持和商業(yè)運(yùn)營等。專有技術(shù)：共有30多項(xiàng)，典型技術(shù)有:單、雙鏡頭光路技術(shù)，傅里葉正變換算法與傅里葉反變換算法相結(jié)合的三鏡頭光路技術(shù)，濕法免排氣泡技術(shù)，動(dòng)態(tài)光納米測試技術(shù)，激光智能管理技術(shù)，半導(dǎo)體激光器自動(dòng)恒功率技術(shù)，機(jī)械中心、光學(xué)中心光路雙重定位技術(shù)，軟件SOP可編輯技術(shù)，誤操作無響應(yīng)技術(shù)，超聲波防干燒技術(shù)，光譜動(dòng)態(tài)補(bǔ)償及高精度反演計(jì)算技術(shù)，干法多重撞擊分散技術(shù)，超高速采樣技術(shù)，所有光路一次性同時(shí)采集技術(shù)，圖像樣品池鞘流技術(shù)，顯微顆粒圖像識(shí)別技術(shù)，顆粒圖像重建技術(shù)，分散介質(zhì)自動(dòng)加注技術(shù)等。山東耐克特自主研制的NKT系列濕法、干法、噴霧、在線等激光粒度分析儀，圖像分析儀，定氮分析儀等產(chǎn)品，在金屬粉和非金屬礦粉以及水泥、陶瓷、化工、醫(yī)藥、涂料、顏料、農(nóng)藥等領(lǐng)域得到廣泛運(yùn)用

展開

NKT系列濕法，干法，噴霧，在線等激光粒度分析儀，圖像分析儀，定氮分析儀等產(chǎn)品

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	分散方式	干濕法分散
價(jià)格區(qū)間	面議	儀器種類	動(dòng)態(tài)光散射
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀：

量程范圍：0.5nm-10000nm(與樣品有關(guān))

外觀尺寸：440mm×245mm×228mm

產(chǎn)品特點(diǎn)：粒子與分子量光纖耦合半導(dǎo)體激光器高速數(shù)字相關(guān)器雙波長激光器一鍵切換 ±0.1％高精度恒溫控制 HAMAMASTU光電倍增管

NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀概述Product Overview

NKT-N9系列納米粒度分析儀是專門用于表征納米顆粒粒度及分布的分析儀器。其基于動(dòng)態(tài)光散射 (DLS)原理和光子相關(guān)光譜(PCS)技術(shù)，利用激光照射均勻分散于樣品池中的納米顆粒，探測光纖在90°角接收樣品顆粒因布朗運(yùn)動(dòng)而引起的強(qiáng)度隨時(shí)間漲落的動(dòng)態(tài)散射光，并傳輸至光電倍增管(PMT), 將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成離散的脈沖信號(hào)，再通過數(shù)字相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相關(guān)曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，最后根據(jù) Stokes-Einstein方程計(jì)算出被測樣品的粒度及分布。

適用范圍 Scope Of Application

NKT-N9激光粒度儀被廣泛應(yīng)用于新材料、制藥、生物工程、生命科學(xué)、化工、涂裝、食品安全等各領(lǐng)域中有機(jī)或無機(jī)納米乳液、粉末、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的粒度表征及樣品體系分散性和穩(wěn)定性分析。

產(chǎn)品參數(shù) Product Parameters

測量原理	動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、光子相關(guān)光譜法(PCS)、靜態(tài)光散射(SLS)
粒徑范圍	0.5nm-10000nm（與樣品選件有關(guān)）
探測角度	90o
測試參數(shù)	粒度、分子量、第二微利系數(shù)
激光器	集成恒溫系統(tǒng)大功率50mw，波長532nm或405固體激光器（可選）
相關(guān) 器	512物理通道，采樣時(shí)間0.1us-1ms動(dòng)態(tài)可調(diào)
探測器	光電倍增管（PMT）
濾波方式	光陷阱濾波
準(zhǔn)確度誤差	優(yōu)于±1%（平均粒徑，NIS可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品）
重復(fù)性誤差	優(yōu)于±1%（平均粒徑，NIS可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品）
樣品池	12mm石英比色皿，1ml-4ml
測試濃度小范圍	0.1mg/ml--40%w/v（與樣品選件有關(guān)）
分子量測試范圍	340 Da-2×107Da（與樣品選件有關(guān)）
測量速度	小于5分鐘/次
溫控范圍	5℃-90℃
溫控精度	±0.1℃
光強(qiáng)調(diào)節(jié)范圍	0 - 100%,自動(dòng)調(diào)節(jié)
環(huán)境要求	5°C-45°C，10%-85%相對(duì)濕度（無結(jié)凝）
工作電源	AC100V-240V@50Hz-60Hz,DC12V/10A
外觀尺寸	440mm×245mm×228mm
儀器重量	9.5kg
執(zhí)行范圍	GB/T29022-2021/ISO22412-2017 GB/T19627-2005/ISO13320-1996

技術(shù)詳解 Technical Explanation

NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀全光纖測試光路，造就高靈敏度

高性能低噪聲光纖耦合半導(dǎo)體激光器與全光纖動(dòng)態(tài)散射光接收系統(tǒng)搭建的測試光路，采用低暗計(jì)數(shù)、高靈敏度的HAMAMASTU光電倍增管(PMT)作為光電探測器，使其整個(gè)測試系統(tǒng)具有高的靈敏度和信噪比，為測試準(zhǔn)確度和高分辨率奠定了基礎(chǔ)。

NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀高速數(shù)字相關(guān)器，成就高分辨率

自主研制的高速數(shù)字相關(guān)器作為核心器件用于信號(hào)處理，高速實(shí)時(shí)地采集動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)并進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算，其具有識(shí)別6ns信號(hào)分辨能力、百兆級(jí)數(shù)據(jù)處理速度和高于1011線性動(dòng)態(tài)范圍，確保全量程內(nèi)不同大小顆粒自相關(guān)曲線的完整性。

NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀

NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀全量程校準(zhǔn)驗(yàn)證，確保測試準(zhǔn)確度

在全量程范圍內(nèi)使用多種國家粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行校準(zhǔn)驗(yàn)證，其測試準(zhǔn)確度誤差均小于1%(高于國家標(biāo)準(zhǔn) GB/T29022-2021/ISO22412:2017要求)。

NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀高精度恒溫控制

加持自動(dòng)恒溫技術(shù)的半導(dǎo)體激光器確保激光輸出穩(wěn)定可靠，高精度恒溫控制系統(tǒng)使樣品池中的被測樣品在整個(gè)測試過程中處于恒溫狀態(tài)，避免因溫度變化而引起介質(zhì)粘度和顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度變化導(dǎo)致的測試偏差，從而保證了測試結(jié)果可靠性和穩(wěn)定性。