LSR-1 (LSR L32) 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀
- 公司名稱 林賽斯（上海）科學儀器有限公司
- 品牌 LINSEIS/林賽斯
- 型號 LSR-1 (LSR L32)
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2026/2/6 14:44:34
- 訪問次數(shù) 139
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德國LINSEIS公司是專業(yè)研發(fā)和制造熱分析儀器生產商，總部位于德國巴伐利亞州澤爾布。自1957年成立至今，德國LINSEIS一直致力于研發(fā)生產熱分析及熱物性設備，為全球廣大用戶提供熱分析領域解決方案。
林賽斯（上海）科學儀器有限公司主要服務于廣大中國區(qū)用戶，提供LINSEIS熱分析儀器售前、銷售及售后全方面服務。為更好的響應客戶需求，目前在北京、上海、香港均設有服務機構，已形成了立足京滬、橫跨南北、覆蓋全國的服務體系。位于北京的應用實驗室，及與高校研究院成立的聯(lián)合實驗室均能更進一步與廣大用戶共同探討熱分析應用方面的解決方案。
LINSEIS除了提供全線熱分析標準設備（差示掃描量熱儀、熱天平、同步熱分析儀、熱膨脹儀、熱膨脹相變儀、熱機械分析儀、導熱測試儀、激光導熱儀、熱電材料測試儀、塞貝克/電阻分析儀、熱界面材料測量系統(tǒng)、熱質聯(lián)用儀等），還提供為客戶量身定制的熱分析測量設備。LINSEIS寬廣的測量響應條件（-263 至 2800℃，最高350bar）可廣泛應用于聚合物、化工、金屬/合金、陶瓷/玻璃/建材、熱電材料、核工業(yè)、航空航天等領域。
熱擴散/導熱系數(shù)測試儀，熱膨脹儀，薄膜物性分析儀，同步熱分析儀，熱重分析儀，差示掃描量熱儀，熱機械分析儀，塞貝克系數(shù)測定儀
| 應用領域 | 綜合 |
|---|
基礎版本LSR-1（LSR L32）塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 在室溫至 200 °C 范圍內可以與各種選配件結合使用，以擴展其應用范圍。例如，低溫配件，支持通過液氮冷卻實現(xiàn)低至 -160 °C 的全自動測量，可快速冷卻至 80 K（電阻測量）?？蛇x的高溫探頭可將電阻測量擴展至 600 °C ，光照配件則支持在三波長 LED 光源下進行特定光照條件下的熱電測量。LSR-1（LSR L32）系統(tǒng)采用范德堡法（電阻測量）、靜態(tài)直流法和斜率塞貝克系數(shù)測量技術，適用于金屬和半導體樣品的表征。
塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 其緊湊的臺式設計支持全自動和軟件控制操作，基于 Windows 的綜合軟件提供直觀的用戶界面，包括測量配置向導、數(shù)據(jù)可靠性反饋以及集成的數(shù)據(jù)評估與存儲功能。真空密閉測量室與氣體計量系統(tǒng)相結合，確保滿足廣泛的應用需求，便于高精度熱電材料的研究。
獨特功能
模塊化系統(tǒng)設計：支持通過氣體吹掃系統(tǒng)、光照和低溫配件進行功能擴展。
真空密閉測量室：可在惰性、還原性、氧化性或真空等特定氣氛下進行精確測量。
便捷可更換樣品支架：集成主加熱和輔助加熱功能，確保高效溫控。
同步測量能力：可同時測量塞貝克系數(shù)和電阻（電阻率），提升實驗效率。
特殊接觸機制：簡化樣品制備流程，確保測量結果的高重復性和可靠性
V-I 特性測量：以確定傳感器與樣品之間是否接觸良好。
全自動軟件控制：支持預定義溫度和測量曲線的自動化操作，減少人為誤差。
規(guī)格參數(shù)
| 類型 | LSR-1 (LSR L32) |
| 溫度范圍： | 基礎單元：室溫至 200 °C 低溫配件：-160 °C 至 200 °C |
| 測量原理： | 塞貝克系數(shù)測量范圍：0 至 2.5 mV/K，溫度梯度可達 10 K 塞貝克電壓測量范圍：±8 mV |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空 推薦使用低壓氦氣以優(yōu)化測量條件 |
| 樣品支架： | 集成 PCB 板，配備主加熱和輔助加熱功能，確保均勻溫控 |
| 樣品尺寸（塞貝克系數(shù)測量）： | 長度：8 mm 至 25 mm 寬度：2 mm 至 25 mm 厚度：薄膜樣品≤ 2 mm |
| 樣品尺寸（電阻測量）： | 長度：18 mm 至 25 mm 寬度：18 mm 至 25 mm 厚度：薄膜樣品 ≤ 2 mm |
| 真空泵： | 選配 |
| 加熱速率： | 0.01 - 100 K/min，滿足快速升溫需求 |
| 溫度精度： | ±1.5 °C 或 0.0040 · | t |，確保高精度溫控 |
| 電阻測量范圍： | 10 nOhm（nOhm = 10-9 Ohm），適用于低電阻材料 |
| 電壓測量范圍： | 0.5 nV/K（nV = 10-9 V），支持高靈敏度測量 |
應用
廣泛應用于各種塊體和薄膜形式的熱電材料塞貝克系數(shù)和電阻的測量
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