賽默飛 ARL QUANTX能量色散X射線熒光能譜儀主要特點(diǎn)：
具有廣泛的應(yīng)用如:ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環(huán)境污染氣溶膠的測(cè)度, 考古文物保護(hù),刑偵痕量分析,營(yíng)養(yǎng)品分析,磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體的薄膜渡層厚度分析,各種油品中成分分析,納米至微米鍍層厚度測(cè)量,土壤,催化劑,礦石,原材料等.
賽默飛 ARL QUANTX能量色散X射線熒光能譜儀用于材料的無(wú)損分析可選擇液氮致冷或電致冷Si(Li) 探測(cè)器 從氟至鈾的多元素分析測(cè)定的濃度范圍一般可以從ppm級(jí)至100% 技術(shù)參數(shù)Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測(cè)限瓶頸。
專為滿足實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)境中挑戰(zhàn)性的分析需求而設(shè)計(jì)，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可zui大程度提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過(guò)簡(jiǎn)易的樣品制備，實(shí)現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。
*的技術(shù)
*的 Peltier 電制冷 Si (Li) 檢測(cè)器
數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)
高性能、多元素分析
主要功能
出色的痕量分析靈敏度
高分析量的進(jìn)程控制
適用于異常材料的高級(jí)分析算法
出色的樣品處理靈活性
機(jī)械簡(jiǎn)化和靈活性
占地面積小、易于運(yùn)輸以進(jìn)行野外測(cè)量
快速、簡(jiǎn)易的安裝以及可*現(xiàn)場(chǎng)定制
隨附完整的實(shí)驗(yàn)室啟用套件
經(jīng)驗(yàn)證的硬件和全套軟件
現(xiàn)場(chǎng)、協(xié)同方法開(kāi)發(fā)
完整的技術(shù)應(yīng)用支持
匯集了數(shù)百種應(yīng)用的專業(yè)知識(shí)
功能強(qiáng)大、易于使用的 WinTrace*軟件
無(wú)標(biāo)和半無(wú)標(biāo)分析
基本參數(shù) (FP) 和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)方法
多層厚度及成分
不限元素、不限數(shù)量的標(biāo)樣
利用自動(dòng)化操作實(shí)現(xiàn)多個(gè)激發(fā)條件
可用于：
懸浮顆粒物過(guò)濾器
符合 RoHS 及 WEEE 的分析
法醫(yī)及痕量分析
營(yíng)養(yǎng)補(bǔ)充劑
磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體
土壤污染
過(guò)濾器上的薄膜
塑料中的有毒元素